专利名称：虚拟故障地址产生系统、冗余分析仿真系统及其方
法
专利类型：发明专利
发明人：吴伦娜,白弼岿,尹德鸠申请号：CN201310164040.5申请日：20130507公开号：CN103425814A公开日：20131204
摘要：提供一种虚拟故障地址产生系统、冗余分析仿真系统及其方法。并提供一种故障分布产生系统。所述故障分布产生系统包括：故障地址映射模块，接收将包括在半导体装置中的故障表示为具有多个不同故障等级的多个像素的故障比特映射以及包括在半导体装置中的故障的故障地址，并将故障地址映射到故障比特映射的每个像素；故障模式分析模块，从故障地址映射模块接收关于故障地址被映射到的每个像素的信息，分析接收到的信息，并将包括在每个像素中的故障分类为预定故障模式；故障分布估计模块，基于故障模式分析模块的分类的结果估计根据故障等级的故障模式的发生概率分布。
申请人：三星电子株式会社
地址：韩国京畿道水原市
国籍：KR
代理机构：北京铭硕知识产权代理有限公司
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