专利名称：一种基于二次谐波的原子磁强计检测光频率测量与
稳定装置及方法
专利类型：发明专利
发明人：丁铭,胡焱晖,张吉,刘学静申请号：CN201710580934.0申请日：20170717公开号：CN107394576A公开日：20171124
摘要：本发明公开了一种基于二次谐波的原子磁强计检测光频率测量与稳定装置及方法，该方法基于碱金属原子气室对于检测激光的光学吸收作用和色散效应以及相位调制器的光学效应(如电光效应、磁光效应、光弹效应等)，通过监测原子磁强计光学检测系统输出的二次谐波信号，实时解算出检测光频率，并由伺服控制器及闭环控制算法，将控制信号反馈给检测光源控制模块进行相应的调节，实现大失谐检测光的频率在线测量与长时间闭环稳定。本发明发挥了系统简化，体积小，应用范围扩大，实时测量与反馈等优势，有利于小型化、集成化原子磁场测量装置的灵敏度和稳定性的提高，可服务于未来原子磁强计等量子传感仪器的工业集成和实际应用。
申请人：北京航空航天大学
地址：100191 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
代理机构：北京科迪生专利代理有限责任公司
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