专利名称：一种小轴间隙测量装置专利类型：发明专利发明人：胡士华,刘方磊申请号：CN201910812629.9申请日：20190830公开号：CN110375619A公开日：20191025
摘要：本发明公开了一种小轴间隙测量装置，包括基座，基座的上端向内倒角形成凹台，基座的中部向外延伸形成基座凸台，基座凸台的上表面向下凹陷形成定位凹槽；所述基座的下端连接表座，表座的下端安装百分表，百分表的上端通过测量杆与小轴接触。本发明可以测量小轴端部到转子底部凸台的距离，通过该距离可以快速判断，小轴是否安装到位或运输阻尼安装过程中是否造成小轴弯曲等情况，避免小轴间隙不合格导致的实际Y尺寸或X间隙不合格的情况，保证机器的装配质量及安全运行要求。本发明结构简单，使用方便，效果好，具有广阔的应用前景。
申请人：核工业理化工程研究院
地址：300180 天津市河东区津塘路168号
国籍：CN
代理机构：天津市宗欣专利商标代理有限公司
代理人：胡恩河
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