专利名称：一种用于集成电路板的通电老化测试装置专利类型：实用新型专利
发明人：狄鹏,阮明,余猛,徐幸康,赵金菊,李建军,宋佳,郝景杰,
王耀生,杨志明
申请号：CN201921025825.3申请日：20190703公开号：CN210401583U公开日：20200424
摘要：本实用新型公开了一种用于集成电路板的通电老化测试装置，涉及老化测试装置领域，解决了目前老化测试效率低，使用配合不便的弊端，其技术方案要点是通过底板、侧板、隔板及电源挂板的不同组合，实现多种测试需求；侧板设置有两块分别固定安装于底板的两侧，侧板远离底板的侧边间隔开设有若干垂直于底板的开槽；隔板卡嵌安装于开槽，相邻两个隔板之间形成进行测试的测试工位；电源挂板可拆卸安装于其一侧板背对底板的一侧，电源挂板上设置有多路一一对应于测试工位以进行供电的电源供电接口，本实用新型的一种用于集成电路板的通电老化测试装置能够供多种产品的集成电路板进行老化测试，调整简便，且测试工位充足，测试效率更高。
申请人：上海飞奥燃气设备有限公司
地址：201201 上海市浦东新区龙东大道4493号
国籍：CN
代理机构：上海伯瑞杰知识产权代理有限公司
代理人：孟旭彤
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容