X射线荧光光谱法
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用四硼酸锂熔样，用X射线荧光光谱法测定钨矿物中W、Mn、Fe和Nb4个元素。
仪器
X射线荧光光谱仪。
铑靶X射线管，工作电压50kV，电流40mA。
试剂
四硼酸锂，光谱纯。
Ba(NO3)2，光谱纯，作氧化剂兼重吸收剂。
Ta2O5，光谱纯，重吸收剂兼内标元素。
校准曲线
以天然试样为主，辅以人工标准作分析试样的校准系列。各元素的含量范围为:
WO320%～75%，MnO1%～20%，FeO5%～30%，Nb2O50.03%～0.5%。
分析步骤
称取0.3g(精确至0.0001g)试样、0.1500gTa2O5、0.5000gBa(NO3)2和5.0000gLi2B4O7于瓷坩埚中，用玻璃棒搅匀后转入Pt-Au坩埚中，加2mL10g/LLiBr溶液，加盖于低温电炉上烤干。然后置于1050～1100℃高温炉中熔融5min，取出坩埚，倾斜并缓缓转动以赶除气泡，趁热摇动使熔体混匀。当熔体全部附在坩埚壁上后，再置于高温炉中熔融。反复4～5次。最后一次赶尽小气泡，使熔融物铺满坩埚底，放在水平的石棉板上，待其冷却。2～3min后，玻璃片即自动剥离，用XRF测定。各元素均用LiF200晶体，Nb用闪烁计数器，其余元素用流气正比计数器。钨用Lα1为分析线，其余元素用Kα线为分析线。
